課程名稱
【竹科管理局補助課程】可靠度驗證及失效機制分析:從矽(Silicon)到超越摩爾定律半導體技術
課程內容 1.半導體元件可靠度概述及可靠度統計分析介紹
2.依時性介電質崩潰(Time dependent dielectric breakdown)
3.界面缺陷與偏壓溫度不穩定性(Interface traps & Bias temperature
instability)
4.超越摩爾定律(More-than-Moore)半導體技術的可靠度議題(GaN/SiC化合物半導體為例)
先修課程  
總筆數[ 1 ]   每頁 20 筆,第 頁 / 共 1
上課日期 上課時段 授課老師 報名截止日 上課地點 報名 課程費用
20241016-20241016 週三,09:00-12:00 吳添立 教授 20241014 清華大學第四綜合大樓 報名已截止 2000
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