課程名稱 | 【竹科管理局補助課程】可靠度驗證及失效機制分析:從矽(Silicon)到超越摩爾定律半導體技術 |
課程內容 | 1.半導體元件可靠度概述及可靠度統計分析介紹 2.依時性介電質崩潰(Time dependent dielectric breakdown) 3.界面缺陷與偏壓溫度不穩定性(Interface traps & Bias temperature instability) 4.超越摩爾定律(More-than-Moore)半導體技術的可靠度議題(GaN/SiC化合物半導體為例) |
先修課程 |
上課日期 | 上課時段 | 授課老師 | 報名截止日 | 上課地點 | 報名 | 課程費用 |
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20241016-20241016 | 週三,09:00-12:00 | 吳添立 教授 | 20241014 | 清華大學第四綜合大樓 | 報名已截止 | 2000 |