課程名稱
【竹科管理局補助課程】化合物半導體可靠度測試及失效機制分析
課程內容 1.半導體元件可靠度概述及可靠度統計分析介紹
2.依時性介電質崩潰(Time dependent dielectric breakdown)
3.界面缺陷與偏壓溫度不穩定性 (Interface traps & Bias temperature instability)
4.GaN/SiC化合物半導體的可靠度議題
先修課程  
總筆數[ 1 ]   每頁 20 筆,第 頁 / 共 1
上課日期 上課時段 授課老師 報名截止日 上課地點 報名 課程費用
20250903-20250903 週三,09:00~12:00 吳添立教授 20250901 清華大學第四綜合大樓 我要報名 1000
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