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【竹科管理局補助課程】化合物半導體可靠度測試及失效機制分析 |
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1.半導體元件可靠度概述及可靠度統計分析介紹 2.依時性介電質崩潰(Time dependent dielectric breakdown) 3.界面缺陷與偏壓溫度不穩定性 (Interface traps & Bias temperature instability) 4.GaN/SiC化合物半導體的可靠度議題 |
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上課日期 | 上課時段 | 授課老師 | 報名截止日 | 上課地點 | 報名 | 課程費用 |
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20250903-20250903 | 週三,09:00~12:00 | 吳添立教授 | 20250901 | 清華大學第四綜合大樓 | 我要報名 | 1000 |