 課程名稱 |
【竹科管理局補助課程】IC測試及檢測設備實務 |
| 課程內容 |
1.Semiconductor ATE & Inspection System Overview 2.Basic IC Tester Structure Overview 3.Fundamental of IC Tester Instrument Theory 4.Wafer Prober Overview 5.IC Handler Overview 6.Wafer Inspection System Overview 7.IC Package Inspection System Overview |
| 先修課程 |
| 上課日期 | 上課時段 | 授課老師 | 報名截止日 | 上課地點 | 報名 | 課程費用 |
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| 20260710-20260710 | 09:00-17:00，週五 | 自強基金會 專業講師 | 20260708 | 清華大學第四綜合大樓 | 我要報名 | 2000 |