 課程名稱 |
【竹科管理局補助課程】積體電路故障分析技術與良率提升 |
| 課程內容 |
1.半導體製程量測(著重產線過程中的分析監控量測與良率關係) 2.IC故障分析(著重在故障成因與良率關係) 3.半導體材料分析技術與應用(著重在材料分析常用設備與技術) 4.可靠度與封裝(著重在材料分析常用設備與技術) |
| 先修課程 |
| 上課日期 | 上課時段 | 授課老師 | 報名截止日 | 上課地點 | 報名 | 課程費用 |
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| 20260806-20260807 | 09:00-16:00，週四、五 | 自強基金會 邱教授 | 20260804 | 清華大學第四綜合大樓 | 我要報名 | 2500 |