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積體電路之靜電放電防護設計 |
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課程大綱 1. ESD Events and Test Standards (3 hrs, 柯明道講師) 2. Chip-Level ESD Protection Design (3 hrs, 柯明道講師) 3. ESD Protection Design for RF Circuits (3 hrs, 林群祐講師) 4. System-Level ESD Protection (3 hrs, 葉致廷講師) 5. Latchup in CMOS ICs (3 hrs, 柯明道講師) 課程目的 本課程講授積體電路產品可靠度上最熱門的一項技術:「積體電路之靜電放電(ESD, Electrostatic Discharge)防護設計」,其中包括靜電放電工業標準、靜電放電測試方法、靜電放電防護基本概念、靜電放電的物理機制原理、靜電敦電破壞與電性過壓現象、元件故障模式分析、產品生產線上的累積靜電問題、半導體製程因素、防護元件設計、晶片上防護電路設計、全晶片防護架構設計、高頻電路之靜電放電防護方法、系統層級之靜電放電防護設計、積體電路故障分析以及栓鎖效應(latch-up)防治方法。 適合有電子學、數位積體電路、類比積體電路、半導體元件之基礎知識者修習。 |
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電子學、數位積體電路、類比積體電路、半導體元件 |
上課日期 | 上課時段 | 授課老師 | 報名截止日 | 上課地點 | 報名 | 課程費用 |
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20170614-20170623 | 週一、三、五PM18:30~21:30 | 柯明道教授/林群祐助理教授/葉致廷副理 | 20170623 | 交通大學光復校區工程四館教室 | 報名已截止 | 5000 |